Trang chủ      

Danh mục

Ý kiến khách hàng

Fanpage

Banner trái

Thiết Bị Đo Độ Dày Lớp Mạ, Model: O Series

Thiết Bị Đo Độ Dày Lớp Mạ, Model: O Series

Model: O Series
Hãng sản xuất: Bowman - Mỹ
Tình trạng hàng : Liên hệ đặt hàng
Liên hệ: 0286 296 2269/ 67

Giá bán: Liên hệ ( Chưa VAT )


  • Thông tin sản phẩm
  • Video
  • Catalog
  • Phụ kiện lựa chọn thêm

Mô tả:
– Dòng O Series XRF là thích hợp nhất cho khách hàng với các yêu cầu sau:
– Các bộ phận / tính năng nhỏ như ốc vít, đầu nối hoặc PCB
– Yêu cầu kiểm tra nhanh nhiều mẫu hoặc vị trí
– Cần đo lớp phủ rất mỏng (<100nm)
– Thời gian đo rất ngắn (1-5 giây)
– Đảm bảo đáp ứng IPC-4552A, 4553A, 4554 và 4556, ASTM B568, DIN 50987 và ISO 3497
Thông số kỹ thuật:
– Nguồn tia X: 50W Mo lên tới 80 µm FWHM.
– Đầu thu tín hiệu: Có độ phân giải 135eV
– Khả năng phân tích: 5 lớp( 4 lớp + lớp nền) và 10 nguyên tố trong 1 lớp với phân tích thành phần lên đến 25 phần tử cùng 1 lúc
– Bộ lọc chính: 2 bộ lọc chính
– Độ sâu tiêu cự: Cố định tại 0.1″ (0.254mm)
– Xử lý xung kỹ thuật số: Máy phân tích đa kênh kỹ thuật số 4096 CH với thời gian định hình linh hoạt. Xử lý tín hiệu tự động bao gồm hiệu chỉnh thời gian chết và hiệu chỉnh đỉnh thoát
– Máy tính: Intel, CORE i5 3470 Processor (3.2GHz), Bộ nhớ 8GB DDR3, Hệ điều hành Windows 10 Prof, 64-bit
– Camera Optics: Độ phân giải VGA 1/4 6mm (6 mm) CMOS-1280 × 720, 250X với camera kép hoặc 45X với camera đơn trên màn hình 15″
– Độ phóng đại video: 45x với camera kép, 50x với camera đơn trên màn hình 15″
– Nguồn cung cấp: 150W, 100-240V, tần số 47-63Hz
– Môi trường làm việc: 20°C đến 25°C, độ ẩm 98% RH.
– Trọng lượng: 53kg
– Lập trình XY kích thước bàn 381mm (15″) x 340mm (13″)
– Kích thước bên trong: H140mm (5.5″), W310mm (12″), D340mm (13″)
– Kích thước bên ngoài: H450mm (18″), W450mm (18″), D600mm ( 24″)

Sản phẩm cùng loại

Đăng ký tư vấn

Đăng ký Email để nhận tin tức mới nhất từ chúng tôi được gửi đến hộp thư đến của bạn!

TOP

0286 296 2269/ 67

Gọi điện SMS Liên hệ